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半导体式表面污染测量仪

简要描述:NHJ2表半导体式表面污染测量仪用于测量α、β和γ,采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高,且具有自检、通信、存储等丰富的功能。

  • 产品型号:NHJ2
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-07-19
  • 访  问  量:463

详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域综合

NHJ2半导体式表面污染测量仪用于测量α、β和γ,采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高,且具有自检、通信、存储等丰富的功能。


半导体式表面污染测量仪特性:

l  采用半导体探测器,不需定期交换探测器,经济

l  量程宽,精度高,测量范围为 0.00 min-1-99.99 kmin-1

l  采用彩色有机EL显示屏

l  其画面明亮且宽视角,易于目视

l  测量值和时间可保存1200点

l  具有自我诊断功能

l  测量值可通过 USB 接口存储到计算机


技术规格:

测定射线


α 射线、β 射线、γ 射线

探测器


硅半导体

显示范围


0.00min- 1 - 99.99 kmin-   1

0count - 9999.99 kcount- 1

0.0μSv/h -   999.99 mSv/h  (γ 剂量率)

探测效率


α射线  241Am 20%

β射线  36Cl 25 %,90Sr-90Y   30 %

时间常数


1、3、10 秒,自动

趋式数据存储


1200 点

数据输出


USB 接口

电池寿命


连续显示6个小时以上

间歇显示


7 小时以上 (5分钟当中显示1分)

电源


5号碱性电池6节

镍氢充电式电池6节(另选)

AC 100 V ~   240 V,AC 适配器(另选)

工作温度


-5 ℃ ~ +45 ℃   / 23 ˚F - 113 ˚F

工作湿度


≤ 90 %RH,(无结露)

尺寸


120(W)×56(H)×293(D)   mm

质量


约0.75 kg /   1.65 lb. (不含电池)

依据标准


IEC 60325 (2002),JIS Z 4329 (2004)




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